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可控硅綜合參數測試儀

可控硅綜合參數測試儀

產品型號: HB2931B

所屬分類:半導體器件測試儀

產品時間:2024-05-07

簡要描述:可控硅結合參數測試儀。可測量晶閘管的通態,短態,觸發電壓,維持電流,維持電壓等參數。VTM:0-10V ITM:0-15A VDRM:0-4KV VG:0-1-V IG:0-00MA ICH:0-500MA。

詳細說明:

可控硅結合參數測試儀。可測量晶閘管的通態,短態,觸發電壓,維持電流,維持電壓等參數。VTM:0-10V ITM:0-15A VDRM:0-4KV VG:0-1-V IG:0-00MA ICH:0-500MA。



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